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结果呢半导体测试行业中有哪些重要的相关术语2024-01-10 09:42·中冷低温1. ATE = Automatic Test Equipment. 是自动化测试设的缩写于半导体产业意指集成电路(IC)自动测试机 用于检测集成电路功能之完整性为集成电路生产制造之最后流程 以确保集成电路生产制造之品质2. DUT = Device Under Test. 待测设备半导体行业一般是电子元器件/芯片3. PIB = Prober Interface Board. 探针接口板：介于测试机探针台和半导体晶圆或芯片之间是载板的一种主要用于在半导体器件封装前的测量与自动测试设备(ATE)之间建立电气连接4. DIB = Device Interface Board：设备接口板：介于测试机和设备之间5. PDP = Prober docking plate探针台对接板6. Handler = IC pick up and place handler自动分选机用于成测中自动分类已测芯片的机器必须与测试机相连接对接后（docking）及接上对接板（interface board）才能进行测试动作过程为分选机的手臂将DUT放入socket此时contact chuck下压使DUT的脚正确与socket接触后送出start讯号透过interface tester测试完后tester送回binning及EOT讯号handler做分类动作7.Manipulator: 半导体测试行业的manipulator一般指的是Test head manipulator, 测试机机械手/测试机支架, 也叫测试头机械手/测试头支架搬运测试头方便测试头与探针台（Prober）对接/取消对接或调整测试头8. Prober = 探针台通常指晶圆探针台中测中用于晶圆测试的机器在电气测试中来自测量仪器或测试机的测试信号会通过探针或探针卡传输到晶片上的各个设备然后从设备返回信号 晶圆探针台用于处理晶圆使其在设备上的指定位置接触 在半导体开发中晶圆探测器主要用于评估原型IC的特性可靠性评估和缺陷分析9. Pogo Tower 也叫Prober Tower中文探针塔探针塔是机械上精确排列的弹簧触点顶部和底部中间有可控的阻抗连接由于塔的机械和电子特性是众所周知的测试系统可以补偿插入损耗和信号